v|tome|x L 240 —— 高分辨率微焦点计算机断层扫描(micro ct)系统，用于如大型铸件，焊接接缝，电子设备和更多的三维计算机断层扫描和二维无损X射线检测。

v|tome|x L 450 —— 多功能高分辨率微焦点系统，用于二维和三维计算机断层扫描(micro ct)和二维无损X射线检测 花岗岩底座，可以处理大样本，并具有极高精度。该系统是用于无效和缺陷检测和铸件的三维测量（如首件检测）...

phoenix nanome|x —— 超高分辨率的纳米焦点X射线检测系统，设计用于检测半导体及SMT行业的高品质的组件和互连 该系统具有良好的性能和多功能性，可用于二维X射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了...

VGStudio MAX 是一款世界范围内用于工业CT数据分析和可视化的先进软件平台。